Advantest Corporation zal zijn nieuwste testoplossingen voor geavanceerde IC's presenteren op SEMICON Korea op 1-3 februari in COEX in Seoul, Zuid-Korea. Het bedrijf zal zijn bijdragen aan leading-edge testtechnologie, inclusief geavanceerd geheugen, 5G, AI, high-performance computing (HPC) en nanotechnologie, alsook zijn ESG-initiatieven belichten.

Tentoonstelling: De productshowcase van het bedrijf in stand #C510 laat zien hoe het bedrijf waarde toevoegt aan de zich ontwikkelende waardeketen van halfgeleiders door middel van zijn brede scala aan testoplossingen en -diensten. De digitale displays van dit jaar omvatten: Nieuwe inteXcell, de allereerste volledig geïntegreerde en verenigde testinfrastructuur om de T5835 tester te combineren tot testcellen met een minimale voetafdruk, ideaal voor geavanceerde geheugen-IC-eindtesten; Nieuwe E5620 Defect Review Scanning Electron Microscope (DR-SEM) voor nauwkeurige beoordeling en classificatie van ultrakleine fotomaskerdefecten; Nieuwe XPS128+HV universele VI- en voedingskaart voor het V93000 EXA Scale SoC-testsysteem die de testkosten voor vermogensbeheer-IC's en andere hoogspanningsapparaten verlaagt; Nieuwe DUT Scale Duo interface voor de V93000 EXA Scale SoC-testsystemen vergroot de ruimte op het DUT-bord voor het testen van grote volumes en is compatibel met bestaande DUT-borden; Nieuwe LCD HP meerkanaals digitizer module die voldoet aan hoge nauwkeurigheid en hoge spanningsmeeteisen voor het testen van opkomende display driver IC's in combinatie met de T6391 SoC-tester; T2000 SoC-testsystemen met verbeterde bruikbaarheid van de RDK (Rapid Development Kit), die de ontwikkeling van testprogramma's voor alle SoC's versnelt, inclusief complexe automotive en power analoge toepassingen; MPT3000 solid state drive (SSD) testsystemen die voldoen aan de testvereisten voor PCI Express vijfde generatie (PCIe Gen 5), Compute Express Linko (CXLo) en NVMe SSD's.