Synopsys, Inc. heeft een innovatieve streaming fabric technologie aangekondigd die zowel de toegang tot siliciumdata als de testtijd met tot 80% verkort en tegelijkertijd excessief stroomverbruik minimaliseert. De nieuwe streaming fabric, gegenereerd door Synopsys TestMAX® DFT design-for-test tool en onderdeel van Synopsys' coherente silicon lifecycle management flow, is een uniek on-chip netwerk dat snel silicium data transporteert van en naar meerdere ontwerpblokken en multi-die systemen, waardoor de tijd om efficiënt te testen en de algehele gezondheid van de chip te analyseren op afwijkingen en storingen aanzienlijk wordt verkort. Lagere testkosten door kortere datatransporttijd: Om de gezondheid en uptime van het silicium te garanderen, is constante toegang tot en analyse van chip- of multi-diesysteemgegevens over parameters als proces, spanning en temperatuur vereist.

Voor grote, geavanceerde knooppuntontwerpen gebruiken engineeringteams doorgaans een verdeel-en-heers-aanpak door gegevenstoegang op te nemen in elk ontwerpblok en vervolgens de blokken te verbinden met de pinnen op chipniveau. Traditionele netwerken zijn nogal rigide en vereisen een aanzienlijke hoeveelheid planning. De nieuwe streaming fabric-technologie daarentegen heeft een plug-and-play-benadering, waarbij minimale planningsinspanningen nodig zijn, omdat deze kan worden geprogrammeerd voor verschillende bloksnelheden en data-interfaces.

Om de routering tot een minimum te beperken, ondersteunt de fabric vereenvoudigde vertakkingen voor blokken met kleine data-interfaces. Deze mogelijkheden zorgen ervoor dat de gegevenstoegangsmethoden op blokniveau fysiek ontwerpvriendelijk zijn, minimale inspanning vergen en de kortste benodigde toegangstijd bieden, waardoor de testkosten dalen. Bovendien minimaliseren de vereenvoudigde vertakkingsverbindingen van de technologie de fysieke impact op ontwerpen, waardoor engineeringteams de streaming fabric snel kunnen implementeren met behulp van de Synopsys Digital Design Family.

Betrouwbare gegevens via nauwkeurige vermogensschatting: Gegevens, inclusief testprogramma's, toegepast op chips of multi-diesystemen in het veld mogen er niet toe leiden dat het silicium te veel stroom verbruikt, waardoor het onderdeel beschadigd of de resultaten ongeldig worden. De nieuwe stroomschattingstechnologie die is opgenomen in de Synopsys TestMAX ATPG patroongeneratieoplossing bepaalt nauwkeuriger het opgenomen vermogen op het moment dat de gegevens worden toegepast dan eerdere methoden door de resultaten van de Synopsys PrimePower RTL-to-signoff stroomanalysetechnologie toe te wijzen. Als gevolg hiervan wordt vermogensverlies beperkt, waardoor onjuiste siliciumgegevens en schade worden voorkomen.